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布鲁克Contour Elite K 3D光学显微镜
台式表面的的成像和计量功能
布鲁克的Contour Elite K 3D光学显微镜为表面计量性能的设计和成本效率设定了新的行业标准。Contour Elite K具有出色的粗糙度和2D / 3D测量功能,高保真成像,以及业界进的用户友好界面,可在紧凑的系统中提供毫不妥协的计量和高保真成像。
Contour Elite K提供了白光干涉测量法的所有优点,而没有传统的共聚焦和标准数字显微镜的不足。
布鲁克Contour Elite K 3D光学显微镜
的价值和可扩展的选择
Contour Elite K针对实验室和工厂车间的生产率进行了优化。硬件和软件相结合,可以以比同类计量能力低数千美元的价格,简化对光学性能的访问。Contour Elite K可以通过现场升级的附件轻松扩展到标准平台之外,包括:
毫不妥协的计量设计
简化的系统可提供定量计量所需的低噪声,高速,准确和精密的结果。通过使用多个目标和集成的特征识别功能,可以在各种视角下以亚纳米级的垂直分辨率跟踪特征,从而为非常不同的行业中的质量控制和过程监控应用程序提供与比例无关的结果。
精确的测量和高保真成像
Contour Elite K在工业3D光学显微镜中可提供的横向分辨率,即使在小的结构上也能增强量化边缘变化的能力。Contour Elite的高保真成像可显示特定表面细节,否则将很难看到或无法看到这些细节,并使用户能够根据颜色或灰度信息对数据进行细分,以快速选择感兴趣的区域并从这些特定区域收集关键的计量数据。
强大的分析功能,易于使用
Contour Elite K具有简化的用户界面,可大化用户效率并简化测量和分析。Vision 64将智能架构与直观的可视化工作流程以及广泛的用户定义的自动化功能相结合,可实现快速,全面的数据收集和分析。新的Vision64 Map通过开放简化的对11种语言的自动报告的访问权限,进一步扩展了这些功能。