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布鲁克Contour Elite X 工业光学显微镜
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型号:Contour Elite X

更新时间:2024-01-26  |  阅读:1211

详情介绍

布鲁克Contour Elite X 工业光学显微镜

 

全自动,大样本的Contour Elite X 3D光学轮廓仪将的测量功能与业界大视野和高保真彩色或单色成像上的垂直分辨率结合在一起。没有其他度量衡系统可以提供非接触式精度,吞吐量,操作员便利性和成像功能来解决如此广泛的生产度量衡应用。

Contour Elite X专为苛刻的研发,质量保证和过程质量控制需求而全新设计,可提供的具有仪表功能的3D光学轮廓分析解决方案。


 

Contour Elite X工具图片v1

坚固,具有生产量规的可靠性

除了布鲁克专有的干涉测量技术的测量和成像功能外,Contour Elite X还配备了专有的内部激光参考和定制设计的工业机柜,可实现大的稳定性和耐用性。

该系统的自动化就绪配置包括几乎所有生产环境所需的一切,包括用于提高X,Y,Z晶片放置精度的空气台制表器套件,用于集成的PDU,EMO和真空系统的优化,以及用于自动装载机末端的改进真空吸盘-效果器兼容性。

Contour Elite X倾斜头和平台v1

Contour Elite X Stage v1

简化的自动化和精度

该电动X,Y载物台为Contour Elite X配备了X和Y方向的12英寸编码运动。操纵杆和软件界面控件使样品定位变得容易。XY工作台是Contour Elite X系统的组成部分,可实现自动化程序,从多点数据收集到大面积分析的缝合功能。系统的0.5微米编码器可确保可靠,可重复的自动化和样品定位。
 

 

布鲁克Contour Elite X 工业光学显微镜精确的计量学和高保真成像

Contour Elite X在工业3D光学显微镜中可提供的横向分辨率,即使在小的结构上也能增强量化边缘变化的能力。该系统的高保真成像显示了特定的表面细节,否则将很难看到或无法看到这些细节,并使用户能够基于彩色或灰度信息对数据进行细分,以快速选择感兴趣的区域并从这些特定区域收集关键的计量数据。

    PCB高度图

    Contour Elite Vision 64软件v1

    生产挑战的分析解决方案

    Contour Elite X配备了布鲁克公司屡获殊荣的Vision64软件,以及针对生产操作员的业界功能大,简化的图形用户界面。它提供对易于使用的工具的直观访问,以自定义过程工作流,自动映射和负载测量配方,从而可以进行快速的在线分析以提高制造可靠性。Vision64为操作员提供了丰富的预编程滤镜和分析库,适用于LED,太阳能电池,厚膜,半导体,眼科和医疗设备,精密加工,MEMS和摩擦学应用。

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