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QT-8100HP模拟IC测试系统
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更新时间:2024-05-30  |  阅读:692

详情介绍

QT-8100HP模拟IC测试系统

常规 DC、AC 参数测试、分立器件 Wafer 多 site 和 IC 功能性测试 主要测试:电源管理类,马达驱动类,音频放大器、高速光耦、运放、小功率分立器件等


QT-8100HP模拟IC测试系统

QT-8100HP模拟IC测试系统

型号QT-8100
产品优势

数模混合IC测试系统适用于常规DC、AC参数测试和混合类及模拟类IC器件功能性测试。主要测试:电源管理类,数码消费类,马达驱动类,音频放大器、运放等

主要特点• 悬浮V/I源,四象限
• 由测试盒引出全资源,8site并测
• 数字速率100Mhz,向量深度8M
• 真并测,多路1000V/20A高压大电流
• 18 bit 高精密采样
• 20 个模拟槽位(Max 216通道)/ 8 个数字槽位( Max 128通道)
• 多通道高精度时间测量单元,支持ns级别时间测量
• 支持RF模组扩展
• PCIE 卡,测试效率更高



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