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QT-8100数模混合IC测试系统
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更新时间:2024-05-30  |  阅读:515

详情介绍

QT-8100 数模混合 IC 测试系统 

适用于常规DC、AC参数测试和混合类及模拟类IC器件功能性测试。 主要测试:电源管理类,数码消费类,马达驱动类,音频放大器、运放等。

QT-8100数模混合IC测试系统

QT-8100 数模混合 IC 测试系统 

型号QT-8100
产品优势

数模混合IC测试系统适用于常规DC、AC参数测试和混合类及模拟类IC器件功能性测试。主要测试:电源管理类,数码消费类,马达驱动类,音频放大器、运放等

主要特点• 悬浮V/I源,四象限
• 由测试盒引出全资源,8site并测
• 数字速率100Mhz,向量深度8M
• 真并测,多路1000V/20A高压大电流
• 18 bit 高精密采样
• 20 个模拟槽位(Max 216通道)/ 8 个数字槽位( Max 128通道)
• 多通道高精度时间测量单元,支持ns级别时间测量
• 支持RF模组扩展
• PCIE 卡,测试效率更高


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