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STS8200模拟IC测试系统
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更新时间:2025-09-25  |  阅读:294

详情介绍

STS8200模拟IC测试系统产品特点:

- 主机柜由两个插件箱组成,每插件箱支持13个插槽,总共最多支持26个插槽

- 针对各类模拟,电源管理,信号链产品测试

- 全浮动,多通道的V/I源,每路16位的驱动与测量分辨率

- 具备高压或大功率的选项,单通道1KV,浮动高压源可叠加到2KV

- 具备交流源表及任意波形发生器及数字化仪,支持音频测试

- 多通道的高精度时间测量单元

- 最多32路的数字通道,并支持多种数字通讯协议

- 图形化调试工具

- 支持并行测试模式,支持乒乓模式及TWIN模式;支持分站并发测试模式

- 增加测试头,可扩展为混合信号测试系统

STS8200模拟IC测试系统主要性能指标

资源主要性能指标
浮动源/表FPVI10/FPVI10 PLUS●2通道浮动V/I,每通道±40V/±10A脉冲,4Kx16Bits AWG,500KSPS 4Kx16Bits 电压和电流 Digitizer±100V@200mA直流(FPVI10 PLUS版本有此功能)
FOVI100●8通道,每4路一组浮动V/l,每通道±40V/±100mA直流,±1A脉冲,2Kx16BitsAWG,100KSPS2Kx16Bits 电压和电流 Digitizer
HVI1K●单通道浮动V/l,每通道±1000V/±10mA,16-Bit驱动/测试
QVM●2或4通道浮动高精度电压表,每通道+/-100V测试范围,每通道具备18-Bit1MSPS及12-Bit10MSPS Digitizer,每通道存储深度64Kx18Bits
时间测量QTMU PLUS II●2或4通道时间测试单元,每通道±25V电压范围,精度±2ns±0.1%Rd,65pS 分辨率
数字通道DIO2.0/DIO2.0 PLUS●8路数字通道,-2V-+7V 驱动比较电平,5MHz测试频率,64K向量深度1M向量深度 (DIO2.0PLUS 有此功能)
继 电 器控 制CBIT128●128路继电器控制信号,提供5V/2A,12V/500mA继电器电源及±15V/500mA模拟电源
交流源/表ACS M PLUS●4通道输出,16-Bit 200KHz的AWG,16-Bit 200KSPS及12-Bit10MSPS Digitizer
应用模块PAM●最小量程为±1nA的pA微小电流专用测量模块
PFM●量程分别为1pF/10pF/100pF的pF级微小电容专用测量模块
OP-AMP Test Kit●运算放大器及比较器专用测试套件,最大支持四组运放或比较器测试
HCM100●20v/100A大功率脉冲模块
IPM Test Kit 2.0●IPM测试头,以及DC+AC测试资源,DC达到100A,AC达到200A测试能力
FET Test Kit●基于8200资源,提供标准MOSFET测试,以及GaN FET测试,并可以扩展测试动态Ron


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