当前位置：首页 > 产品展示 > > 数字源表/皮安表/纳伏表 > 普赛斯1003C多通道数字源表
型号：
更新时间：2024-01-28 | 阅读：1135
详情介绍
普赛斯1003C多通道数字源表特点：
同时精确提供和测量电压和/或电流；
同步测量，减少测试时间
提供和测量非常广的电流和电压；
电压可达300mV-300V,电流达100nA-1A
支持运行用户脚本程序，无需电脑控制，提高生产测试速度；
序列测试，简化操作，降低成本
采用用户熟悉的图形界面，不管用户经验是否丰富，使用起来都非常简便；
触屏操作
与传统电源比：
电源过零需要改变线连接方式；
增加需反复开关机械开关，降低了设备可靠性
电压电流限制精度有限；
电压1%，电流10mA
与电源结合万用表组合比：
万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步；
复杂连线、编程开发
电源限压限流性能差
限压限流精度低，瞬态特性也无法保证
普赛斯1003C多通道数字源表应用：
数字源表应用之光伏组件PID测试
PID的真正原因到目前为止没有明确的定论，但最容易在潮湿的环境下发生，并且活跃程度与潮湿程度相关；同时组件表面被导电性、酸性、碱性以及带有离子的物体的污染程度，也与PID现象的发生有关。据推测，来自于钠钙玻璃的金属离子是形成上述具有PID效应的漏电流的主要载流介质。
系统方面
逆变器接地方式和组件在阵列中的位置，决定了电池片和组件受到正偏压或者负偏压。电站实际运行情况和研究结果表明：如果整列中间一块组件和逆变器负极输出端之间的所有组件处于负偏压下，则越靠近输出端组件的PID现象越明显。而在中间一块组件和逆变器正极输出端中间的所有组件处于正偏压下，PID现象不明显。
组件方面
环境条件，如湿度等的影响导致了漏电流的产生。
电池方面
电池片由于参杂不均匀导致方块电阻不均匀；优化电池效率而采用的增加方块电阻会使电池片更容易衰减，导致容易发生PID效应。
测试所需主要仪器为：
步入式环境测试箱；
绝缘耐压测试仪；
接地连续性测试仪；
PID测试直流电压源（数字源表）；
HALM太阳模拟器（AAA+级）；
EL测试仪等。
PID 测试标准引自 IEC 62804 （Draft）
根据IEC61730-2 MST 01进行外观检测；
根据IEC61215第二版进行最大功率测试
根据IEC61215第二版条目10.15进行湿漏电流测试；
如果组件有裸露的导电部位，则要根据IEC61730-2 MST13进行接地连续性测试。
多通道高密度数字源表订货信息
如客户S次使用我司插卡式源表系列产品，请先购买机箱SMU CS控制机箱，购买机箱时请标注需要使用几通道，方便我司将不用通道暂时封闭，保证外观美观性。
主机：
型号 | 1003CS | 1010CS |
插槽数 | 3 | 10 |
子卡：
型号 | CS100 | CS200 | CS300 | CS400 |
单卡通道数 | 1 | 1 | 1 | 4 |
源精度 | 0.1% | 0.1% | 0.1% | 0.1% |
测量精度 | 0.1% | 0.1% | 0.1% | 0.1% |
Z大功率 | 30W | 30W | 30W | 2W/CH |
Z小电压量程 | 300mV | 300mV | 300mV | 10V |
Z大电压量程 | 30V | 100V | 300V | 10V |
Z小电流量程 | 100nA | 100nA | 100nA | 5uA |
Z大电流量程 | 1A | 1A | 1A | 200mA |
普赛斯插卡式设备具有通道密度高、同步触发功能强、多设备组合效率高等特点。普赛斯插卡式主机采用自定义框架，背板总线带宽高达3Gbps，支持16路触发总线，满足多卡设备高速率通信需求。普赛斯研发了丰富的可供用户选配的子卡，方便用户根据功能性能需求灵活配置不同的子卡。主机对外通信支持串口、以太网及GPIB。
为满足客户对子卡数的不同需求，推出了1003CS和1010CS两款主机，1003CS拥有Z高容纳3子卡的插槽，1010CS拥有Z高容纳10子卡的插槽。普赛斯子卡均能放入这两种主机。
CS系列源表子卡是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态、插卡式源表子卡，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大输出电压达300V，Z大输出电流达1A，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。CS系列源表适用于各行各业使用者，特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。
目前已开发，CS100、CS200、CS300及CS400子卡，其中CS100、CS200、CS300为单卡单通道，CS400为单卡四通道，卡内4通道共地。使用10插卡主机时，用户可实现高达40通道的配置，用户针对实际情况可以选择不同的子卡实现*性价比搭配。
高密度插卡式源表应用
纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等
有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等
能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等
传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等
高密度插卡式源表特点
源及测量的准确度为0.1%，分辨率5数位
四象限工作（源和肼），源及测量范围：电流100pA~1A，电压300uV~300V
单主机可支持10子卡，Z高实现40通道
灵活的通道触发总线，多子卡高效协同工作
丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持多种通信接口，RS-232、GPIB及以太网
多通道高密度数字源表技术指标
1003CS 主机：
插槽数：Z多支持3通道；
通信口：RS-232、GPIB、以太网；
电源：AC 100~240V 50/60Hz，Z大功率500W；
工作环境：25±10℃；
尺寸：178mm高 × 482mm宽 × 552mm长；
质保期：1年；
1010CS 主机：
插槽数：Z多支持10通道；
通信口：RS-232、GPIB、以太网；
电源：AC 100~240V 50/60Hz，Z大功率500W；
工作环境：25±10℃；
尺寸：354mm高 × 482mm宽 × 552mm长；
质保期：1年；
关闭
电话
询价
