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布鲁克Dimension Icon原子力显微镜
参考价:

型号:Dimension Icon

更新时间:2024-01-26  |  阅读:1158

详情介绍

布鲁克DimensionIcon原子力显微镜

分辨率成像-无论何时,不论哪次

完整的纳米尺度定量信息

潜力无限–灵活,开放

超乎想象的简单

使研究人员通过PeakForce Tapping®技术能够随时得到高分辨率的图像。

Slide 1 mockup short

在样品上每个原子实现力扫描。

在感兴趣的位置操作获得高分辨率图像。

Dimension Icon Point Defect Resolution on Calcite v1




 

点缺陷的高分辨三维尺寸和机械性能成像

通过快速轻敲,不降低效果的同时增加扫描速度

经由自适用扫描选项达到nm级粗糙度样品上4倍速度的提升

Fast Tapping on SiO wafer

在氧化硅片上快速轻敲

Fast tapping on ITO

在ITO上快速轻敲




 

采用双向扫描选项即刻实现成像速度翻倍




 

采用布鲁克专有的高速探针,结合已知佳规程(BKM)可将扫描速度提高10倍

FastScan C probe

Fastscan-C Probe

完整的纳米尺度定量信息

使研究人员能够通过经常PeakForce Tapping®获得高分辨率图像。




 

可信的纳米级粘弹性表征

Pspmma image icon more v1

以伪彩示意损耗模量,叠合以三维形貌数据。蓝色区域有较高的损耗模量,红色区域则较低,分别对应于聚苯乙烯(PS)基质和聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)掺入物。损失模量数据图通过接触共振原理的布鲁克FASTForce Volume纳米力学模式获得。5微米扫描范围,~ 590kHz, 256x256点采集。

FastScan syndiotactic polypropylene domains v1

间列聚丙烯畴(紫色)被聚甲基丙烯酸甲酯(蓝绿色)基体包围。在形貌数据上叠合模量数据可简易地区分组分,显示出间列聚丙烯薄片在PMMA基体中扩展。图像尺寸8微米。

 

 

 

 

 

 

常规地获得高质量力学性能数据

获取纳米力学和纳米化学数据的高级AFM研究

 

 

 

 

 

 

在之前不可能研究的样品上研究电学性能。

 

 

 

 

Capture the most s1v1

直立碳纳米管的电流成像。唯有PeakForce TUNA®可得到。

Capture the most s2v1

左:通过PeakForce Capture™获取原子级力立方,显示垂直截面上单颗原子的位置。右:PeakForce Capture平均数据显示出可溶解结构的的证据。

 

 

 

 

 

 

获取整体力学数据,从而全面表征接触力学机制。

 

 


 

实时研究原子化学信息。

FastScan Realtime v1

峰值力轻敲高度像(左)和力曲线(右),显示了表面原子排列以及在方解石和云母上样品-探针间原子级相互作用的差异。

 

使研究人员通过PeakForce Tapping®技术获得高分辨率图像。

Unlimited Potential s1v1

Unlimited Potential s1v1

Unlimited Potential s1v1

Unlimited Potential s1v1

先使用已有的测量模式;如果没有,创造一个。

 

 

Unlimited Potentail S2v1

FastScan Custom collage v2

左:手套箱中的原子力显微镜-拉曼联用。右:光导AFM附件

 

 

 

在开放的平台上直接进行改造, 与其它技术联用。

 

 

直接控制软件和硬件,选择一个容易的方法:串行通讯端口,信号测试盒,Nanoman/Litho和力脚本等。

 

 

FastScan Coding v1

左:通过COM口连入NanoScope软件的仪器集成实例。右:在C++中进行NanoScript编程

ScanAsyst® 图像优化软件,让所有使用者能够获得专家级结果。

FastScan Publication Graph v2


 

NanoScope®世界上被认可的,被引用多的原子力显微镜。

布鲁克DimensionIcon原子力显微镜技术细节:

 

Dimension® Icon™优秀的图像分辨率,与Bruker*的电子扫描算法相结合,显著提升了测量速度与质量。Dimension®系列大样品台原子力显微镜始终处于行业地位,的Dimension® Icon™是针尖扫描技术的又一次革新,配置温度补偿位置传感器,实现了Z轴亚埃级和XY轴埃级的低噪音水平,将其应用在90微米扫描范围的大样品台体系上,效果甚至优于高分辨小样品台AFM的开环噪音水平。全新设计的XYZ闭环扫描头,即使在较高的扫描速度工作时,也不会损坏图像质量,实现了更大的数据采集输出量。

体验

  • *的传感器设计,在闭环条件下,也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平,且具有*的扫描分辨率
  • 极大地降低噪声水平,在轻敲模式下低于30pm,接触模式下可获得原子级图像
  • 热漂移速率低于200pm/分钟,获得真正的样品图像

高效率

  • XYZ闭环扫描器的*设计,使仪器在较高扫描速度工作时,也不降低图像质量,具有更大的数据采集效率
  • 将十年的研发经验融入到参数预设置中,在新的NanoScope® 软件带有默认的实验模式。
  • 高分辨率相机和X-Y定位可快速、高效地找到样品测量位置

全功能

  • 针尖和样品之间开放式的空间设计,不仅可以进行各种标准实验,也可以自行设计实验方案,满足不同研究工作的需求
  • 硬件和软件技术的不断创新,新开发的HarmoniX 模式,可以测量纳米尺度上材料性质
  • 用户实用程序脚本提供半自动测量方案和数据分析

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