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NX2020功率器件雪崩耐量测试系统
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更新时间:2025-09-25  |  阅读:3156

详情介绍

NX2020功率器件雪崩耐量测试系统是测试N/P沟道型IGBT、MOSFET、二极管雪崩耐量的专业测试设备,系统满足美军标MIL-STD-750F·3470,能够准确快速的测试出IGBT、MOS、二极管的雪崩耐量。该设备包括:可控直流电源、可选电感、霍尔电流传感器、电压传感器、雪崩保护电压、功率型器件、功率型器件保护电路、计算机控制系统、雪崩电压采集系统、雪崩电流采集系统、测试适配器(可定制)、外接测试端口等多个部分。

ENX2020功率器件雪崩耐量测试系统

功能指标:

测试参数

功能指标

雪崩电压Va

10- 2500 V,分辨率1V

漏极电压

10-150 V,分辨率1V

栅极电压

2-20V,分辨率1V

漏极电流Ia

1A-100A,分辨率0.1A

漏电测试

电压= 2V-150VI = 1.0 mAImax = 8.0 mA

雪崩能量Eas/Ear

1mJ -100J ,分辨率1mJ

感性负载

0.01 mH-159.9 mH 程控式电感,分辨率10uH

参数输入

GPIB输入

波形捕捉和分析

雪崩电流Ia、雪崩电压Va 和雪崩能量Eas波形可在示波器和工控机显示器上同时捕捉观察

输出

两路独立输出,用于测试N或者组合的 MOSFETIGBT

外部接口

PTNET:网络连接和控制的PTNET,

提供最多50 个虚拟BIN

Handler 接口15-bin 控制的机械手接口

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